Compromiso de calidad / Patrick L. Towsend, Joan E. Gebhardt
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TextoDetalles de publicación: México : Limusa Descripción: 267 p. / 23 cmISBN: 968-18-4636-2Tema(s): 1. CIRCULOS DE CALIDAD 2. CONTROL DE CALIDAD 3. EVALUACION DE SISTEMAS ( CONTROL DE CALIDAD)Clasificación CDD: 658.562 T749c Clasificación LoC:HD66 T6518 1994
| Tipo de ítem | Biblioteca actual | Signatura | Copia número | Estado | Fecha de vencimiento | Código de barras |
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Libros
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LUIS G. INCLAN | 658.562 T749c (Navegar estantería(Abre debajo)) | 1 | Disponible | 46916 |
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| 658.562 S818v La ventaja manufacturera / Nigel Slack | 658.562 S818v La ventaja manufacturera / Nigel Slack | 658.562 S848a Administración por calidad (APC) / Demetrio Sosa Pulido | 658.562 T749c Compromiso de calidad / Patrick L. Towsend, Joan E. Gebhardt | 658.562 V168s Standarization / Lal C. Verman | 658.562 V168s Standarization / Lal C. Verman | 658.562 V168s Standarization / Lal C. Verman |
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